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ÉTUDE DE LA RÉPARTITION DES IONS ET DES DÉFAUTS CRÉÉS PAR IMPLANTATION DANS LES SEMI-CONDUCTEURS PAR INTERFÉROMÉTRIE INFRAROUGE p. C5-35 A. BRELOT, Y. LAGADEC, G. BOLBACH, G. HOROWITZ and G. PELOUS DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1973508 PDF (2.368 MB)
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