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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C7, Novembre 1986
33rd International Field Emission Symposium / 33ème Symposium International d'Emission de Champ
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Page(s) | C7-183 - C7-188 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986733 |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C7-183-C7-188
DOI: 10.1051/jphyscol:1986733
OPTIMAL CONDITIONS FOR FIELD ION MICROSCOPIC INVESTIGATIONS OF GRAIN BOUNDARIES OF METALS AND ALLOYS
E. KRAUTZ et G. HAIMLInstitut für Festkörperphysik, Technische Universität Graz, Petersgasse 16, A-8010 Graz, Austria
Résumé
Conditions optimales pour les investigations des joints de grains des métaux avec le microscope ionique à émission de champ existe pour les métaux réfractaires W et Ta préparés des poudres métalliques très fins (< 1 µm) et des fils tirés à températures assez bas pour éviter récrystallisation et quand hélium avec une addition de néon est appliqué comme gaz pour la production des images ce qui augmente la résolution.
Abstract
Optimal conditions for investigations of grain boundaries of metals with the field ion microscope exist for the refractory metals W and Ta prepared from metal powders with rather small grain sizes (< 1 µm) and from wires drawn at sufficient low temperatures to avoid recrystallization and if helium with an addition of neon is used as imaging gas whereby the resolution is enchanced and the imaging field strength decreased.