| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C7, Novembre 1986
33rd International Field Emission Symposium / 33ème Symposium International d'Emission de Champ
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | C7-189 - C7-194 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986734 | |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C7-189-C7-194
DOI: 10.1051/jphyscol:1986734
ATOM PROBE ANALYSIS OF PASSIVE FILMS ON IRON
G. BAUER1 et M. LEISCH21 Institut für Analytische Chemie, Technische Universität Graz, Technikerstrasse 4, A-8010 Graz, Austria
2 Institut für Festkörperphysik, Technische Universität Graz, Petersgasse 16, A-8010 Graz, Austria
Résumé
Une analyse a été exécuté pour des films d'oxyde de fer passif pour déterminer la composition des films et la région entre oxyde et fer pur. L'épaisseur des films en fonction de potentiel appliqué et de temps de la passivation a été déterminée pour s'informer sur la cinétique du développement d'oxyde. Benzotriazole, employé d'habitude pour empêcher la corrosion, a été a jouté â la solution tampon afin d'agir comme détecteur dans la recherche du méchanisme du développement du film d'oxyde.
Abstract
Depth profiling analysis was performed for passive oxide films grown on pure iron specimens to determine the composition of the films and the interface regions. The thickness of the films as a function of applied potential and time of passivation was determined in order to get information on the kinetics of oxide growth. Benzotriazole commonly used as a corrosion inhibitor was added to the buffer solution to act as a tracer in the investigation of the mechanism of oxide growth.