ATOM - PROBE ANALYSIS OF YBa₂ Cu₃ O_7-x - SINGLE CRYSTALS

Résumé
Des expérimentations supplémentaires à l'aide de spectromètres d'ion de champ ont été effectuées pour caractériser et optimiser les conditions de préparation des monocristaux YBa₂Cu₃O_7-x. L'analyse de profil en profondeur de petites aiguilles détachées démontre des fluctuations distinctes des concentrations des éléments principaux lesquelles sont en rapport avec la structure stratifiée de la matière. La composition déterminée par de expériences est en concordance avec la physe 1:2:3 qui était escomptée. Des traces de fondants utilisés de plus dans la culture du cristal, tel que PbCl₂, peuvent être détectées près de la surface.

Abstract
Complementary atom-probe measurements have been carried out to characterize and to optimize the preparation conditions of YBa₂Cu₃O_7-x - single crystals. The depth profiling analysis of cleaved off small needles shows distinct fluctuations of the main components connected to the layer structure of the material. The bulk composition as determined from atom-probe spectra is generally in agreement with the expected 1:2:3 phase. Additionally used flux media in the growth procedure like PbCl₂ can be found embedded in near surface layers.