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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-861 - C2-864 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842197 | |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-861-C2-864
DOI: 10.1051/jphyscol:19842197
SEM EBIC INVESTIGATIONS OF ZnO VARISTOR CERAMICS
A. Bernds, K. Löhnert et E. KubalekUniversität Duisburg, Fachgebiet Werkstoffe der Elektrotechnik, Kommandantenstrasse 60, D-4100 Duisburg 1, F.R.G.
Résumé
Le courant induit (EBIC) obtenu sur des varistances à base d'oxyde de zinc est étudié au microscope électronique à balayage (SEM). On trouve que seuls des joints de grains particuliers produisent un signal EBIC et que l'intensité du signal enregistré sur une ligne, présente une forte variation avec la polarisation appliquée. Les résultats des expériences sont discutés en terme d'émission Schottky des porteurs majoritaires sur la barrière de potentiel des joints de grains.
Abstract
The electron beam induced conductivity (EBIC) of zinc oxide varistor ceramics is studied in the scanning electron microscope (SEM). It is found that only particular grain boundaries give rise to an EBIC signal and that the signal strength and its linescan profile show strong variation with bias voltage. The experimental results are discussed in terms of Schottky emission of majority carriers across the grain boundary potential barrier.