X-Ray and Inner-Shell Processes
Vol. 1

J. Phys. Colloques 48 (1987) C9-827-C9-830
DOI: 10.1051/jphyscol:19879146

EXPERIMANTAL X-RAY RESONANT RAMAN STUDY OF NICKEL

S. MANNINEN¹, P. SUORTTI¹, M. J. COOPER², J. CHOMILIER³ and G. LOUPIAS<sup>3, 4

1</sup>  Department of Physics, University of Helsinki, SF-00170 Helsinki , Finland
²  Department of Physics, University of Warwick, GB-Coventry CV4 7AL, Great-Britain
³  Laboratoire de Minéralogie-Cristallographie , UPMC, T 16, 4, Place Jussieu, F-75252 Paris Cedex 05, France
⁴  LURE, Bât. 2090, Université Paris-Sud, F-91405 Orsay Cedex. France

Résumé
Les intensités et le rendement de diffusion Raman ont été mesurés juste en dessous du seuil K du nickel , 121 où l e phénomène devient résonnant. Le rayonnement synchrotron s'avère être une source performante pour de telles expériences, et des mesures à haute résolution , avec un cristal analyseur, permettront d'obtenir des informations sur la densité d'états.

Abstract
KL and KM Raman scattering intensities have been recorded just below the K absorption edge of nickel, where the resonance occurs, and the yield has been determined. Synchrotron radiation reveals tobe a suitable source of photons for this study, and high resolution measurements, with an analyzing crystal , are expected to provide more informations about the density of States.