| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 48, Numéro C9, Décembre 1987
X-Ray and Inner-Shell ProcessesVol. 1 |
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|---|---|---|
| Page(s) | C9-831 - C9-834 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19879147 | |
X-Ray and Inner-Shell Processes
Vol. 1
J. Phys. Colloques 48 (1987) C9-831-C9-834
DOI: 10.1051/jphyscol:19879147
Department of Physics, University of Helsinki, Siltavuorenpenger 20 D, SF-00170 Helsinki 17, Finland
Vol. 1
J. Phys. Colloques 48 (1987) C9-831-C9-834
DOI: 10.1051/jphyscol:19879147
FINE STRUCTURE OF RESONANT RAMAN SCATTERING
P. SUORTTI, V. ETELÄNIEMI, K. HÄMÄLÄINEN and S. MANNINENDepartment of Physics, University of Helsinki, Siltavuorenpenger 20 D, SF-00170 Helsinki 17, Finland
Résumé
La diffusion Raman résonnante par nickel a été mesurée avec rayonnement CuKα1 et une spectromètre à cristal courbé. Pour la première fois de modulations pareilles à EXAFS ont été observées dans le spectre diffusé. Les differences fondamentales entre ces deux types de structures de la modulation sont discutées.
Abstract
Resonant Raman scattering from nickel sample has been measured using CuKα1, radiation and a focusing crystal spectrometer. For the first tinie EXAFS-like modulations has been observed in the scattered spectrum. The basic differences between these two type of modulation striictures is discussed.