| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-411 - C2-414 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984293 | |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-411-C2-414
DOI: 10.1051/jphyscol:1984293
A PARAMETERLESS METHOD TO CORRECT FOR X-RAY ABSORPTION AND FLUORESCENCE I N THIN FILM MICROANALYSIS
E. Van Cappellen1, 2, D. Van Dyck1, J. Van Landuyt1 et F. Adams21 Universiteit Antwerpen, RUCA, Groenenborgerlaan 171, B-2020 Antwerp, Belgium
2 Universiteit Antwerpen, UIA, Universiteitsplein 1, B-2610 Wilrijk, Belgium
Résumé
Dans la présente contribution une méthode de correction pour l'absorption et la fluorescence en spectroscopie par rayons X d'échantillons transparents aux électrons est présentée. La méthode, qui ne nécessite aucun paramètre ni coefficient, se base sur plusieurs analyses à différents points d'un même échantillon. De même la possibilité de déduire l'épaisseur massique aux points analysés à partir des données expérimentales est examinée.
Abstract
In the present contribution a method is presented which enables to perform absorption and fluorescence corrections in X-ray spectroscopy of transparent specimens. The method is based on several measurement at different sites of the same specimen, but does not require input parameters or coefficients. Moreover the possibility to deduce the mass thickness in every analysed area from the acquired experimental data will be discussed.