| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-415 - C2-417 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984294 | |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-415-C2-417
DOI: 10.1051/jphyscol:1984294
QUANTITATIVE TRANSMISSION ANALYTICAL MICROSCOPY OF SUPERALLOYS
W.E. Voice et R.G. FaulknerDepartment of Materials Engineering and Design, Loughborough University of Technology, Loughborough, Leicestershire LE11 3TU, U.K.
Résumé
On montre que l'utilisation d'une nouvelle méthode de correction pour la microanalyse des lames minces conduit à des résultats satisfaisants dans le cas d'un super-alliage complexe (C263). La méthode est particulièrement efficace lorsqu'on n'utilise que des raies Kα et qu'il n'y a pas de fluorescence. On montre que les effets d'absorption et de fluorescence ne sont pas négligeables dans les lames minces.
Abstract
Application of a new correction procedure for thin film microanalysis has been shown to work reasonably well for a complex superalloy, C263. The procedure is particularly successful when applied to systems where only Kα lines are present and when no fluorescence occurs. It is shown that absorption and fluorescence effects cannot be neglected in thin films.