| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-407 - C2-410 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984292 | |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-407-C2-410
DOI: 10.1051/jphyscol:1984292
DETERMINATION OF CLIFF-LORIMER k FACTORS FOR A HITACHI H700H 200 kV SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
E. Metcalfe et J.P. BroomfieldTechnology Planning and Research Division, Central Electricity Generating Board, Central Electricity Research Laboratories, Kelvin Avenue, Leatherhead, U. K.
Résumé
La technique proposée par Cliff-Lorimer pour la microanalyse X des lames minces demande la connaissance des coefficients k qui relient le rapport des intensités mesurées au rapport des concentrations. Dans cette contribution on détermine ces facteurs pour un microscope électronique en transmission, en employant des témoins minéralogiques et des alliages homogènes. On compare les valeurs expérimentales et les valeurs théoriques obtenues par application des facteurs k.
Abstract
The Cliff-Lorimer ratio technique for thin film X-ray microanalysis requires knowledge of the k factors which relate the measured X-ray intensities to the composition of the specimen. This paper reports the determination of k factors at 200 kV for an analytical transmission electron microscope (Hitachi H700H with a LINK 860 system) using mineral standards and homogeneous alloys. The experimental data are compared with calculations of theoretical k factors.