| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-21 - C2-24 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984205 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-21-C2-24
DOI: 10.1051/jphyscol:1984205
Scool of Materials Science, University of Bath, U.K.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-21-C2-24
DOI: 10.1051/jphyscol:1984205
AN IMPROVED ABSORPTION CORRECTION FOR QUANTITATIVE ANALYSIS
G. Love, D.A. Sewell et V.D. ScottScool of Materials Science, University of Bath, U.K.
Résumé
On propose une correction nouvelle et polyvalente pour l'absorption. Elle est fondée sur une représentation approchée de la distribution en profondeur du rayonnement X caractéristique, sous la forme d'un profil quadrilatéral.
Abstract
A new and versatile correction for absorption is proposed which is based upon simplifying the x-ray depth distribution in a target to a quadlateral profile.