| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-17 - C2-20 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984204 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-17-C2-20
DOI: 10.1051/jphyscol:1984204
Office National d'Etude et de Recherches Aérospatiales, 29, Avenuede la Division Leclerc, 92320 Châtillon, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-17-C2-20
DOI: 10.1051/jphyscol:1984204
EXTENSION DES POSSIBILITÉS QUANTITATIVES DE LAMICROANALYSE PAR UNE FORMULATION NOUVELLE DES EFFETS DE MATRICE
J.L. Pouchou et F. PichoirOffice National d'Etude et de Recherches Aérospatiales, 29, Avenuede la Division Leclerc, 92320 Châtillon, France
Résumé
Quelques applications d'un nouveau modèle de calcul en microanalyse, combinant les effets d'absorption et de numéro atomique, sont présentées. Un accent particulier est mis sur l'amélioration notable des corrections d'absorption, ainsi que sur la possibilité d'aborder quantitativement l'étude d'échantillons chimiquement inhomogènes en profondeur.
Abstract
Some applications of a new model for microanalysis,involving a combined computation of absorption and atomic number effects, are presented. A special attention is paid to the improvement of absorption corrective factors. The capability of a genuine quantitative approach for studying in-depth chemical heterogeneities is also emphasized.