Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 43, Numéro C5, Décembre 1982
Colloque International sur l'Epitaxie des Semiconducteurs / Epitaxial Growth of Semiconductor Material
Page(s) C5-221 - C5-227
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1982526
Colloque International sur l'Epitaxie des Semiconducteurs / Epitaxial Growth of Semiconductor Material

J. Phys. Colloques 43 (1982) C5-221-C5-227

DOI: 10.1051/jphyscol:1982526

THE VAPOR PHASE INTERACTION OF TRIMETHYLALUMINUM WITH GRAPHITE DURING OMVPE

D.W. Kisker1, D.A. Stevenson2, J.N. Miller3 et G.B. Stringfellow4

1  Max-Planck Institüt - Heisenbergstr. 1, 7000 Stuttgart 70 Fed. Rep. of Germany
2  Dept. of Materials Science, Stanford University, Stanford, CA 94305, U.S.A.
3  Hewlett Packard Labs, 1501 Page Mill Road, Palo Alto, CA 94304, U.S.A.
4  Dept. of Materials Science, University of Utah, Salt Lake City, UT 84112, U.S.A.


Résumé
Nous avons étudié l'interaction de (CH3)3Al avec les surfaces de graphite en utilisant un spectrometre de masse à jet moléculaire. Nos résultats indiquent un effect d'adsorption important qui explique des phénomènes observés pendant la croissance organométallique de AlxGa1-xAs comme des transitions lentes de la concentration d'aluminium, et la réduction de l'incorporation d'oxygène et de sélénium.


Abstract
We have used a moleculor beam mass spectrometer to study the interaction of trimethylaluminum (TMA) with graphite surfaces. Our results indicate that a strong adsorption effect occurs which explains phenomena occuring during OMVPE growth of AlxGa1-xAs, such as long Al transients, oxygen gettering, and reduced incorporation of selenium.