Issue
J. Phys. Colloques
Volume 47, Number C1, Février 1986
Thirteenth International Conference on Science of Ceramics
Page(s) C1-285 - C1-289
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986141
Thirteenth International Conference on Science of Ceramics

J. Phys. Colloques 47 (1986) C1-285-C1-289

DOI: 10.1051/jphyscol:1986141

MORPHOLOGICAL CHARACTERIZATION OF SiC MATERIALS

J.L. CHERMANT, M. COSTER et R. MOUSSA

Equipe Matériaux-Microstructure du L.A. 251, ISMRa, Université, F-14032 Caen Cedex, France


Résumé
L'analyse quantitative d'images a été utilisée pour mesurer les principales caractéristiques morphologiques de quelques nuances de SiC-Al : caractéristiques granulométriques, forme et anisotropie des cristaux. L'homogénéité de ces céramiques a été étudiée par des méthodes statistiques.


Abstract
Quantitative image analysis were used to measure the main morphological characteristics of some SiC-Al materials : size distribution characteristics, shape and anisotropy of the Sic-crystals. Statistical methods were utilized to inform on the homogeneity of these materials.