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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C9-447 - C9-451 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984974 | |
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-447-C9-451
DOI: 10.1051/jphyscol:1984974
Department of Physics, Chalmers University of Technology, S-412 96 Göteborg, Sweden
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-447-C9-451
DOI: 10.1051/jphyscol:1984974
MICROANALYSIS OF TiC AND Al2O3 COATINGS ON CEMENTED CARBIDES
J. Skogsmo, A. Henjered et H. NordénDepartment of Physics, Chalmers University of Technology, S-412 96 Göteborg, Sweden
Résumé
Des échantillons de carbures frittés, taillés en aiguille, ont été enrobés de TiC et Al2O3 en utilisant la méthode du dépôt chimique en phase de vapeur (CVD). Les couches ont été analysées par microscopie électronique 3 transmission (TEM), microscopie ionique à effet de champ (FIM) et sonde atomique (AP). Les résultats de ces investigations sont présentés, y compris la première analyse par APFIM d'une couche d'Al2O3.
Abstract
FIM specimens of cemented carbides have been coated with TiC and Al2O3 using the CVD method. The coatings have been analysed using TEM, FIM, and electrically pulsed AP. Results from the investigation, including the first AP-FIM analysis of an Al2O3 coating, are given.