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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C9-71 - C9-75 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984913 | |
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-71-C9-75
DOI: 10.1051/jphyscol:1984913
Physics Department, The Pennsylvia State University, University Park, Pennsylvania 16802, U.S.A.
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-71-C9-75
DOI: 10.1051/jphyscol:1984913
A PRECISION MEASUREMENT OF ABSOLUTE IONIC MASSES AND ENERGIES OF FIELD EMITTED IONS*
T.T. Tsong, S.B. McLane et Y. LiouPhysics Department, The Pennsylvia State University, University Park, Pennsylvania 16802, U.S.A.
Résumé
Des méthodes ont été mises au point pour mesurer la masse et l'énergie absolues d'ions émis par effet de champ avec une précision meilleure que 0,0005 uma et 0,5 eV en utilisant la sonde à atomes à temps de vol pulsée par laser.
Abstract
Methods have been devised to measure the absolute mass and energy of field emitted ions to an accuracy better than 0.0005 amu and 0.5 eV using the pulsed-laser time-of-flight atom-probe.