AN OVERVIEW OF THE ELECTROCHEMICAL INTERFACE AND OPTICAL SPECTROSCOPIC STUDIES p. C5-1 E. YEAGER DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977501 AbstractPDF (1.768 MB)
PROPRIÉTÉS DES INTERFACESPROPRIÉTÉS ÉLECTRONIQUES DES SURFACES p. C5-19 P. LENGLART DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977502 AbstractPDF (143.0 KB)
OPTICAL CONSTANTS AND THEIR MEASUREMENT p. C5-21 D. W. LYNCH DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977503 AbstractPDF (822.9 KB)
OPTICAL PROPERTIES OF SURFACES : RECENT ADVANCES p. C5-31 C. B. DUKE DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977504 AbstractPDF (197.8 KB)
ASPECTS OF ELECTRODYNAMICS OF ELECTROCHEMICAL SYSTEMS p. C5-35 R. R. DOGONADZE, A. A. KORNYSHEV, A. M. KUZNETSOV and T. A. MARSAGISHVILI DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977505 AbstractPDF (1.102 MB)
EFFECT OF LOCALIZED ELECTRONIC STATES ON SIMPLE ELECTRON TRANSFER REACTIONS AT FILM-COVERED ELECTRODES p. C5-49 K. DOBLHOFER and J. ULSTRUP DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977506 AbstractPDF (507.5 KB)
MICROSCOPIC MODEL FOR THE OPTICAL PROPERTIES OF THIN FILMS p. C5-57 M. J. DIGNAM and J. FEDYK DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977507 AbstractPDF (613.2 KB)
LES ONDES ÉLECTROMAGNÉTIQUES DE SURFACE ET LEUR UTILISATION POUR L'ÉTUDE DES SURFACES ET INTERFACES p. C5-67 F. ABELES DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977508 AbstractPDF (541.3 KB)
RUGOSITÉTHE PROBLEM OF SURFACE ROUGHNESS IN ELLIPSOMETRY AND REFLECTOMETRY p. C5-77 I. OHLÍDAL, F. LUKE and K. NAVRÁTIL DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977509 AbstractPDF (844.9 KB)
THE INFLUENCE OF SAMPLE STRUCTURE ON THE OPTICAL PROPERTIES OF SOLIDS p. C5-89 O. HUNDERI DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977510 AbstractPDF (543.6 KB)
ELLIPSOMÉTRIEÉTUDE DE L'INTERFACE OR-ÉLECTROLYTE PAR ELLIPSOMÉTRIE AVEC EXCITATION DE PLASMONS DE SURFACE p. C5-97 F. CHAO, M. COSTA and A. TADJEDDINE DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977511 AbstractPDF (665.9 KB)
ÉTUDE PAR ELLIPSOMÉTRIE DE FILMS PHYSISORBÉS SUR GRAPHITE p. C5-109 G. QUENTEL and R. KERN DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977512 AbstractPDF (299.8 KB)
ELLIPSOMETRY APPLIED TO THE STUDY OF SEMICONDUCTOR SURFACES p. C5-115 H. LÜTH DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977513 AbstractPDF (1.478 MB)
ÉTUDE PAR ELLIPSOMÉTRIE DES CONFORMATIONS MOLÉCULAIRES DANS LES MONOCOUCHES D'ACIDES GRAS A LA SURFACE DE L'EAU p. C5-123 L. TÉNÈBRE DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977514 AbstractPDF (390.0 KB)
ELLIPSOMETRIC AND ELECTROCHEMICAL STUDIES OF THE STATE OF THE SURFACE OF COBALT, NICKEL AND INDIUM ELECTRODES p. C5-128 N. A. SHUMILOVA, Z. I. KUDRYAVTSEVA, N. A. ZHUCHKOVA, V. A. OPENKIN and E. I. KHRUSHCHEVA DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977515 AbstractPDF (30.77 KB)
OXYDATION ET CORROSIONAPPLICATION OF ELLIPSOMETRY TO THE STUDY OF CORROSION PROCESSES p. C5-129 J. KRUGER DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977516 AbstractPDF (1.687 MB)
ÉTUDE PAR ELLIPSOMÉTRIE ET MICROANALYSE NUCLÉAIRE DE L'INTERFACE FER PASSIVE-SOLUTION p. C5-139 B. AGIUS and J. SIEJKA DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977517 AbstractPDF (440.2 KB)
OPTICAL AND ELECTROCATALYTIC PROPERTIES OF OXIDE LAYERS p. C5-145 S. GOTTESFELD, M. YANIV, D. LASER and S. SRINIVASAN DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977518 AbstractPDF (427.1 KB)
INVESTIGATION OF PASSIVE ELECTRODES USING MODULATION SPECTROSCOPY AND PHOTOPOTENTIAL MEASUREMENTS p. C5-151 W. PAATSCH DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977519 AbstractPDF (306.9 KB)
ANALYSE STATISTIQUE DES DONNÉES SPECTRORÉFLECTOMÉTRIQUES POUR L'ÉTUDE DES FILMS D'OXYDE p. C5-157 G. BLONDEAU, M. FROELICHER, M. FROMENT and A. HUGOT-LE GOFF DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977520 AbstractPDF (456.9 KB)
MESURE DE LA FONCTION DE TRANSFERT ÉLECTRO-OPTIQUE D'UN SYSTÈME ÉLECTROCHIMIQUE p. C5-163 G. BLONDEAU, M. FROELICHER, C. GABRIELLI, A. HUGOT-LE GOFF and V. JOVANCICEVIC DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977521 AbstractPDF (146.8 KB)
SPECTROSCOPIE ET RÉFLECTANCEREFLECTANCE SPECTROSCOPY IN THE STUDY OF ELECTRODE SURFACES p. C5-167 D. M. KOLB DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977522 AbstractPDF (841.4 KB)
ÉLECTRORÉFLEXION DES MÉTAUX NOBLES p. C5-179 J. RICHARD DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977523 AbstractPDF (376.7 KB)
ÉTUDE OPTIQUE DE L'INTERFACE OR-ELECTROLYTE AQUEUX MESURES D'ADMITTANCE ET DE RÉFLECTIVITÉ DIFFÉRENTIELLES DANS LA RÉGION DE COUCHE DOUBLE EN PRÉSENCE D'ADSORPTION SPÉCIFIQUE D'IONS SULFATE p. C5-185 J. P. DALBERA, C. HINNEN and A. ROUSSEAU DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977524 AbstractPDF (579.6 KB)
SPECULAR REFLECTANCE STUDY OP CATALYTIC EFFECTS OF MONOLAYER OF LEAD ON OXIDATION OF FORMIC ACID ON PLATINUM ELECTRODE p. C5-193 R. R. ADŽIj and M. M. PODLAVICKY DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977525 AbstractPDF (429.3 KB)
NON-AQUEOUS ELECTROLYTES IN THE ELECTROREFLECTANCE STUDIES p. C5-201 F. LUKE and J. HELE IC DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977526 AbstractPDF (343.6 KB)
ANALYSIS OF SOLID-LIQUID INTERPHASE SPECTRA VIA CAUSAL TRANSFORMATION p. C5-207 W. N. HANSEN and W. A. ABDOU DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977527 AbstractPDF (503.2 KB)
THE ADDITIONAL DETERMINATION OF THE PHASE DIFFERENCE IN REFLECTION SPECTROSCOPY p. C5-215 W. J. PLIETH DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977528 AbstractPDF (505.1 KB)
THE COMPLEX [MATH]-PLANE, A NEW THEORETICAL CONCEPT IN REFLECTION SPECTROSCOPY1. APPLICATION TO A FILM (NON-ABSORBING, ISOTROPIC)/SUBSTRATE SYSTEM p. C5-225 K. D. NAEGELE DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977529 AbstractPDF (491.2 KB)
ADSORPTION INDUCED ANISOTROPY IN THE ELECTROREFLECTANCE OF SILVER p. C5-233 T. E. FURTAK DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977530 AbstractPDF (432.7 KB)
RAMANAPPLICATIONS OF RAMAN SPECTROSCOPY IN ELECTROCHEMISTRY p. C5-239 R. P. VAN DUYNE DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977531 AbstractPDF (1.822 MB)
MÉTHODES D'ÉTUDE DE COUCHES MINCES ET D'INTERFACES PAR SPECTROSCOPIE RAMAN p. C5-253 Y. LEVY and R. DUPEYRAT DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977532 AbstractPDF (1010 KB)
PHOTOÉLECTROCHIMIEPHOTOELECTROCHEMICAL PROCESSES ON ANODIC LAYERS p. C5-261 E. ANGELINI, M. MAJA and P. SPINELLI DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977533 AbstractPDF (579.9 KB)
COMPORTEMENT PHOTOÉLECTROCHIMIQUE DES OXYDES SEMI-CONDUCTEURS p. C5-271 J. R. MARTIN, R. OLIER and P. CLECHET DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977534 AbstractPDF (463.1 KB)
PHOTOÉMISSIONPHOTOEMISSION YIELD SPECTROSCOPY OF METAL ELECTRODES p. C5-277 J. K. SASS and H. J. LEWERENZ DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977535 AbstractPDF (1.512 MB)
