| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-381 - C2-386 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984286 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-381-C2-386
DOI: 10.1051/jphyscol:1984286
Central Electricity Generating Board, South Eastern Region, Scientific Services Department, Gravesend, Kent, U.K.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-381-C2-386
DOI: 10.1051/jphyscol:1984286
STEM-EDS X-RAY MICROANALYSIS IN THIN METAL FOILS
P. Doig et P.E.J. FlewittCentral Electricity Generating Board, South Eastern Region, Scientific Services Department, Gravesend, Kent, U.K.
Résumé
Les conditions expérimentales pour optimaliser la détection des ségrégations élémentaires en petits précipités et sur des joints de grains dans des lames minces d'aciers sont décrites.
Abstract
Experimental conditions for optimising the detection of elemental segregations to small precipitates and grain boundaries in iron base thin foils are described.