| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-387 - C2-388 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984287 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-387-C2-388
DOI: 10.1051/jphyscol:1984287
IRSID, 78105 Saint-Germain-en-Laye Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-387-C2-388
DOI: 10.1051/jphyscol:1984287
ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY WITH A THERMALLY STABILIZED FIELD EMISSION GUN
B. Thomas, J. Bourgeot, P. Chemelle et A. RîbesIRSID, 78105 Saint-Germain-en-Laye Cedex, France
Résumé
On examine les améliorations qu'apporte l'emploi d'un canon à émission de champ à la microanalyse en microscopie électronique en transmission.
Abstract
The improvements in the microanalytic capabilities in transmission electron microscopy are described and discussed.