| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-231 - C2-234 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984251 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-231-C2-234
DOI: 10.1051/jphyscol:1984251
Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research, CH-Dübendorf, Switzerland
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-231-C2-234
DOI: 10.1051/jphyscol:1984251
EXTENDED SOFTWARE POSSIBILITIES IN X-RAY MICROANALYSIS
D. Grman et W.J. MusterSwiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research, CH-Dübendorf, Switzerland
Résumé
En microanalyse par rayons X, de nouvelles possibilités intéressantes d'application de l'informatique ont été développées au cours de ces dernières années. Quelques-unes d'entre elles, à savoir notamment les programmes QLA, TRACE, MAP et CALIB, sont décrites ci-après. Elles relèvent de l'utilisation, dans le domaine de la métallurgie, d'une microsonde électronique "JEOL Superprobe JXCA-733" pilotée par ordinateur.
Abstract
In recent years further interesting computer application in X-ray microanalysis have been developed. Some of these (QLA-, TRACE-, MAP- and CALIB-program) will be presented using a computer controlled electron microprobe "JEOL Superprobe JXCA-733" for metallurgical applications.