| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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|---|---|---|
| Page(s) | C2-775 - C2-780 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842178 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-775-C2-780
DOI: 10.1051/jphyscol:19842178
National Bureau of Standards, Washington, DC 20234, U.S.A.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-775-C2-780
DOI: 10.1051/jphyscol:19842178
MICROBEAM ANALYSIS OF SAMPLES OF UNUSUAL SHAPE
D.E. NewburyNational Bureau of Standards, Washington, DC 20234, U.S.A.
Résumé
On décrit des corrections pour l'analyse quantitative de particules et de surfaces irrégulières.
Abstract
Corrections for the quantitative analysis of particles and irregular surfaces are described.