| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-781 - C2-784 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842179 | |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-781-C2-784
DOI: 10.1051/jphyscol:19842179
AUTOMATED QUANTITATIVE ELECTRON MICROPROBE ANALYSIS OF PARTICULATE MATERIAL
P. Van Dyck, H. Storms et R. Van GriekenUniversity of Antwerp, Belgium
Résumé
Une sonde électronique, équipée d'un spectromètre non-dispersif de rayons-X et d'un système de digitalisation du signal des électrons retrodiffusés, peut permettre de mesurer et d'analyser de nombreuses particules d'une façon automatique. Un programme d'ordinateur a été développé afin d'utiliser les données sur la forme et les mesures des particules pour des analyses quantitatives automatiques et pour comparer les caractéristiques des différentes méthodes de correction pour les effets de matrice.
Abstract
An automated electron microprobe, equipped with an energy-dispersive X-ray spectrometer and an additional backscattered electron signal digitalization system, can allow rapid sizing and major element analysis on numerous particles. A software package has been developed to exploit the particle size and shape information to achieve quantitative analysis of single particles, and to compare the performance of the different matrix correction procedures.