| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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|---|---|---|
| Page(s) | C2-769 - C2-774 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842177 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-769-C2-774
DOI: 10.1051/jphyscol:19842177
Center for Analytical Chemistry and Center for Materials Science, National Bureau of Standards, Washington, D.C. 20234, U.S.A.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-769-C2-774
DOI: 10.1051/jphyscol:19842177
GLASSES FOR MICROANALYSIS : NEW NBS (U.S.A.) STANDARD REFERENCE MATERIALS
R.B. Marinenko et D.H. BlackburnCenter for Analytical Chemistry and Center for Materials Science, National Bureau of Standards, Washington, D.C. 20234, U.S.A.
Résumé
Un lot de quinze verres est en train d'être certifié par le NBS, en qualité d'étalons calibrés (SRM's) pour la microanalyse.
Abstract
A group of fifteen glasses are being certified by NBS as new SRM's for microanalysis.