| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-705 - C2-708 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842163 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-705-C2-708
DOI: 10.1051/jphyscol:19842163
Massachusetts Institute of Technology, Department of Materials Science and Engineering, Cambridge, Massachusetts 02139, U.S.A.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-705-C2-708
DOI: 10.1051/jphyscol:19842163
APPLICATIONS OF A.E.M. TO RAPIDLY SOLIDIFIED MATERIALS
J.B. Vander Sande et A.J. Garratt-ReedMassachusetts Institute of Technology, Department of Materials Science and Engineering, Cambridge, Massachusetts 02139, U.S.A.
Résumé
Nous présentons deux analyses faites par STEM : (a) analyse de poudres d'acier à haute teneur en phosphore atomisées par centrifugation ; (b) étude du film d'oxyde formé sur aciers inoxydables pendant un traitement d'oxydation à haute température. Les aciers inoxydables étudiés étaient préalablement formés soit par un procédé conventionnel soit par solidification rapide.
Abstract
We describe (a) a STEM analysis of centrifugally-atomised powders of high-phosphorous steels, and (b) a study of the oxide scale formed on wrought or rapidly solidified stainless steels during high-temperature oxidation.