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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-701 - C2-704 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842162 | |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-701-C2-704
DOI: 10.1051/jphyscol:19842162
X-RAY EMISSION SPECTROSCOPY OF INDUSTRIAL CATALYSTS IN THE STEM
J. LynchInstitut Français du Pétrole, 1 et 4 avenue de Bois Préau, 92502 Rueil-Malmaison, France
Résumé
On présente des mesures réalisées sur des catalyseurs montrant certaines des limitations de l'analyse par émission X dans le STEM. Ces limitations sont dues à la dégradation de l'échantillon et à la taille du faisceau. Le taux de comptage est comparé aux valeurs théoriques pour des tailles de sonde limitées par l'aberration sphérique. Une bonne corrélation est trouvée pour les particules de taille comprise entre 1 et 25 nm.
Abstract
Examples of limitations to XES analysis of catalyst specimens in the STEM due to specimen degradation and probe size are presented. Absolute count rates as a function of particle size are compared with theoretical values for spherical aberration limited probes. Good agreement with the predicted size dependance is found in the range 1 to 25 nm.