YIELD OF PARENT AND FRAGMENT IONS SPUTTERED FROM ORGANIC OVERLAYERS BY LOW-VELOCITY ARGON : VARIATION WITH IMPACT ANGLE AND COVERAGE

Résumé
Pour diverses multicouches organiques déposées sur Au, nous avons mesuré les rendements d'ions Y⁺ d'ions parents et de fragments en fonction de l'angle d'impact θ d'ions argon de 30 keV. Les résultats furent enregistrés après avoir déterminé la dépendance latérale de l'efficacité relative du détecteur. Pour θ jusqu'à 70° les résultats peuvent être représentés par Y⁺(θ) = cos^-nθ. La puissance n révèle qu'il existe une variation prononcée, avec n allant de 0,5 à 2, qui dépend de la cible (type de dépôt et nature). Pour de faibles recouvrements et des masses de molécules en dessous 80 u, les valeurs de n sont plus petites (n < 1). Par contre on trouve n ≈ 2 pour des couches épaisses de vitamines B1 et des masses > 150 n.

Abstract
For different organic overlayers deposited on gold substrates we have measured secondary ion yields, Y⁺, of parent and fragment ions as a function of the impact angle θ of 30 kev Ar⁺ ions. The data were recorded after determining the lateral dependence of the relative detector efficiency. For θ up to 70° the data can be approximated by Y⁺(θ) = cos^-nθ. The power n reveals a pronounced species and coverage dependence with n-values ranging from 0.5 to 2. For low coverages and molecular masses below 80 u, the n-values are smallest (n < 1). By contrast n ≈ 2 for thick layers of vitamin B₁ and molecular masses > 150 u.