MeV, keV AND PHOTON INDUCED DESORPTION TIME OF FLIGHT MASS SPECTROMETRY

Résumé
Un spectromètre de masse par temps de vol a été utilisé afin de comparer les processus de désorption d'ions secondaires induits par des ions de quelques MeV, keV et par photons d'un laser pulsé N₂. les mesures sont faites avec les mêmes cibles (organiques et inorganiques) dans des conditions expérimentales identiques quelle que soit la sonde de désorption (keV, MeV, laser). Le but de cette expérience est de mesurer les rendements absolus d'émission secondaire et d'observer les différents modes de fragmentation suivant la sonde utilisée. L'utilisation d'un spectromètre de masse par temps de vol combiné avec diverses sondes de désorption-ionisation, peut conduire à une meilleure compréhension des mécanismes de désorption.

Abstract
An experimental comparison is presented concerning secondary ion desorption from insulators by keV and MeV heavy ion and by pulsed laser light. Time of flight mass spectra obtained with these desorption probes turned out to show many similarities /1,2,3/ despite of the quite different energizing processes. Some corresponding data have been published already /1,2,3,4/. The aim of the present work is to measure absolute ion yields and to exhibit the virtually existing differences associated with the three desorption probes. This has an practical aspect, since the combination of the methods could inlarge their capabilities for mass spectrometry but it might also lead to a deeper understanding of the desorption mechanisms. The measurements were made with the same targets under the same experimental conditions whatever the desorption probes (keV, MeV, Laser).