FILTER STRUCTURE FOR SUB-MICRON FILTRATION FABRICATED IN SILICON

Abstract
Design och tillverkningen av ett nytt partikelfilter för filtrering i det submikrona området beskrivs. Filtreringsprincipen är baserad på två, i förhållande till varandra, lateralt förskjutna hålmembran genom vilka fluiden måste passera. Tjockleken hos de stöd av kiseldioxid som separerar hålmembranen definerar storleken på de största partiklar som kan passera genom strukturen. Filterstrukturen tillverkades i en särskild tvåstegs självlinjerande process där ett hålmonster, hård bordopning, anisotrop kiseletsning och kiseldioxidunderetsning utgjorde de viktigaste processtegen. Det faktum att filterstrukturen elektriskt ugör en kondensator möjliggör andra applikationer. Strukturer med membranavstånd på 50 och 200 nm har tillverkats.

Abstract
The design and fabrication of a new particle filter in the sub-micron range are described. The filtration principle is based on two laterally displaced silicon hole membranes, through and between which the fluid has to pass. The thickness of the silicondioxide spacers separating the hole membranes defines the size of the largest. particles which can pass through the structure. The filter structure was fabricated using a special two-step self-aligning technique where one single hole pattern, heavy boron diffusion, anisotropic silicon etching and silicondioxide undercut-etching constituted the most important process steps. The fact that electrically the filter structure is a capacitor makes other applications possible. Structures with membrane separation distances of 50 and 200 nm have been made.