Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C8, Décembre 1986
EXAFS and Near Edge Structure IV
Page(s) C8-173 - C8-178
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986832
EXAFS and Near Edge Structure IV

J. Phys. Colloques 47 (1986) C8-173-C8-178

DOI: 10.1051/jphyscol:1986832

A NEW TECHNIQUE FOR SUBMONOLAYER NEXAFS : FLUORESCENCE YIELD AT THE CARBON K EDGE

D. ARVANITIS1, U. DOBLER2, L. WENZEL1, K. BABERSCHKE1 et J. STÖHR3

1  Institut für Atom und Festkörperphysik, Freie Universität Berlin, Arnimallee 14, D-1000 Berlin 33, F.R.G.
2  Siemens Systemtechnik, Nonnendammallee 101, D-1000 Berlin 13, F.R.G.
3  IBM, Almaden Research Center, San Jose, CA 95120-6099, U.S.A.


Résumé
La structure fine au voisinage du seuil d'absorption X (NEXAFS) K du carbone est mesurée pour de molecules d'hydrocarbures linéaires sur du Cu( 100) à 60 K. Quatre modes possibles de detection sont comparés : yield en fluorescence (FY), yield electronique en mode Auger (AEY) , partiel (PEY) et total (TEY) sous les mêmes conditions experimentales. On prouve que la fluorescence est la technique la plus fiable, à cause du rapport accru signal sur fond JR : JR(FY) = 10, JR(AEY) = 0,6, JR(PEY) = 0,17 et JR(TEY) = 0,05. Des spectres en sous-monocouche de C2H2, C2H4, C2H6 sur du Cu (100) sont présentés.


Abstract
Near Edge X-ray Absorption Fine Structure (NEXAFS) measurements at the C K edge are used to investigate linear hydrocarbon molecules on Cu (100) at 60 K. Four different detection modes are compared under the same experimental conditions : fluorescence yield (FY) , Auger electron yield, (AEY), partial electron yield (PEY) and total electron yield (TEY). Because of an increase of the edge jump ratio JR due to reduction in background intensity the fluorescence yield method is shown to be the most reliable. The values obtained for JR are : JR(FY) = 10, JR(AEY) = 0,6, JR(PEY) = 0,17 and JR(TEY) = 0,05. Submonolayer spectra of C2H2, C2H4, C2H6 on Cu (100) are presented.