Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C8, Décembre 1986
EXAFS and Near Edge Structure IV
Page(s) C8-539 - C8-542
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19868101
EXAFS and Near Edge Structure IV

J. Phys. Colloques 47 (1986) C8-539-C8-542

DOI: 10.1051/jphyscol:19868101

THEORY OF SURFACE ELECTRON ENERGY LOSS FINE STRUCTURE (S.E.E.L.F.S.) SPECTROSCOPY : RELATIONSHIP TO EXAFS AND PERSPECTIVES

F. MILA1 et C. NOGUERA2

1  DPHG, SPAS, CEN Saclay, F-91191 Gif-Sur-Yvette Cedex, France
2  Laboratoire de Physique des Solides, (LA002), Université de Paris-Sud, F-91405 Orsay Cedex, France


Résumé
Nous donnons une expression analytique du courant mesuré dans une expérience de S.E.E.L.F.S. A l'aide d'un calcul numérique dans cas réaliste, nous montrons que, bien que les variations du courant avec l'énergie soient plus complexes que ce que l'on pense généralement, une analyse numérique de type EXAFS permet de déterminer les distances avec beaucoup de précision. Nous proposons une analyse du signal plus approfondie, à l'aide d'une seconde transformée de Fourier, qui, dans des conditions expérimentales que nous spécifions, permet d'obtenir, de plus, les valeurs des angles des liaisons.


Abstract
We derive an analytic expression for the current measured in a S.E.E.L.F.S. experiment. With the help of a computation performed in a realistic case, we show that, although the energy dependence of the current is more involved than what is generally believed, a simple EXAFS-like Fourier analysis allows distance determination with a high accuracy. We propose a deeper analysis of the signal, based on a second type of Fourier transform, which, under specified experimental conditions, allows in addition the determination of bond angles.