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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C7, Novembre 1986
33rd International Field Emission Symposium / 33ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C7-503 - C7-508 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986784 | |
33rd International Field Emission Symposium / 33ème Symposium International d'Emission de Champ
J. Phys. Colloques 47 (1986) C7-503-C7-508
DOI: 10.1051/jphyscol:1986784
UA-CNRS, Laboratoire de Microscopie Ionique, Faculté des Sciences de Rouen, BP 67, F-76130 Mont-Saint-Aignan, France
J. Phys. Colloques 47 (1986) C7-503-C7-508
DOI: 10.1051/jphyscol:1986784
A STATISTICAL MODEL FOR DERIVING THE MICROSTRUCTURE PARAMETERS OF FINELY DISPERSED SYSTEMS FROM ATOM-PROBE ANALYSES
D. BLAVETTE et S. CHAMBRELANDUA-CNRS, Laboratoire de Microscopie Ionique, Faculté des Sciences de Rouen, BP 67, F-76130 Mont-Saint-Aignan, France
Résumé
Un modèle statistique simple pour déterminer les paramètres microstructuraux à partir des données de sonde atomique est décrit. Cette méthode permet de déduire la taille des particules, la fraction volumique et la véritable composition de précipités à partir des profils de concentration expérimentaux.
Abstract
A simple statistical model for determining the microstructural parameters from atom-probe data is described. This method allows to derive the particle size, the volume fraction as well as the actual composition of precipitates from composition profiles obtained experimentally.