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J. Phys. Colloques
Volume 46, Numéro C7, Octobre 1985
Fifth International Conference on Dynamical Processes in the Excited States of Solids / Dynamique des Etats Excités dans les Solides
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| Page(s) | C7-173 - C7-177 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1985733 | |
Fifth International Conference on Dynamical Processes in the Excited States of Solids / Dynamique des Etats Excités dans les Solides
J. Phys. Colloques 46 (1985) C7-173-C7-177
DOI: 10.1051/jphyscol:1985733
1 A. F. Ioffe Physical-Technical Institute , 194021 Leningrad, U.S.S.R.
2 Universität-Gesamthochschule Paderborn, 4790 Paderborn, F.R.G.
J. Phys. Colloques 46 (1985) C7-173-C7-177
DOI: 10.1051/jphyscol:1985733
EXCITON LOCALIZATION BY COMPOSITIONAL FLUCTUATIONS IN II-VI SEMICONDUCTOR SOLID SOLUTIONS
S. Permogorov1, A. Reznitsky1, S. Verbin1, A. Naumov1, W. von der Osten2 et H. Stolz21 A. F. Ioffe Physical-Technical Institute , 194021 Leningrad, U.S.S.R.
2 Universität-Gesamthochschule Paderborn, 4790 Paderborn, F.R.G.
Résumé
La localisation des excitons par des fluctuations de composition a été observée dans les alliages des composés II-VI. De nombreuses techniques optiques peuvent etre utilisées pour obtenir des renseignements sur les propriétés de ces excitons localisés. L'accent est mis dans le travail sur l'utilité de ces techniques pour déterminer le seuil de mobilité des excitons dans ces alliages.
Abstract
Localization of excitons by compositional fluctuations has been observed in II-VI solid solutions with substitution in anionic sublattice. The localized exciton states can be probed by selective excitation, polarized emission or time-resolved spectroscopy. The mobility edge for localized exciton system is discussed.