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J. Phys. Colloques
Volume 46, Numéro C4, Avril 1985
International Conference on the Structure and Properties of Internal Interfaces
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| Page(s) | C4-441 - C4-447 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1985449 | |
International Conference on the Structure and Properties of Internal Interfaces
J. Phys. Colloques 46 (1985) C4-441-C4-447
DOI: 10.1051/jphyscol:1985449
Laboratoire de Chimie Appliquée, Université Paris-Sud, 91405 Orsay Cedex, France
J. Phys. Colloques 46 (1985) C4-441-C4-447
DOI: 10.1051/jphyscol:1985449
GROWTH OF NICKEL OXIDE - BASED ORIENTED EUTECTIC STRUCTURES AND CHARACTERIZATION OF THE INTERPHASE BOUNDARIES
A. Revcolevschi, G. Dhalenne et F. d'YvoireLaboratoire de Chimie Appliquée, Université Paris-Sud, 91405 Orsay Cedex, France
Résumé
Des structures eutectiques orientées ont été élaborées par solidification dirigée dans plusieurs systèmes binaires à base d'oxyde NiO. Les directions de croissance, les relations cristallographiques entre phases eutectiques et la nature des plans d'interface ont été déterminées. Les résultats sont comparés à ceux relatifs à d'autres systèmes oxyde-oxyde.
Abstract
Well aligned eutectic structures have been grown by directional solification in several nickel oxide-based binary systems. Growth directions of the aligned structures, crystallographic relations between the two phases of each eutectic and the Miller indices of the interface planes were determined. The results are compared with data relative to other oxide-oxide eutectics.