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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C9-119 - C9-124 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984921 | |
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-119-C9-124
DOI: 10.1051/jphyscol:1984921
RESOLUTION OF FIELD-ION MICROSCOPY VERSUS SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY FOR OBTAINING SURFACE CHARGE DENSITY CORRUGATIONS
D.R. Kingham1, 2 et N. Garcia1, 31 Cavendish Laboratory, Madingley Road, Cambridge, CB3 OHE, U.K.
2 VG Scientific, The Birches Industrial Estate, Imberhorne Lane, East Grinstead, Sussex, RH19 1UB, U.K.
3 Departamento de Física Fundamental, Universidad Autónoma, Cantoblanco, Madrid - 34, Spain
Résumé
La densité de charge au-dessus d'une surface métallique ondulée est calculée afin de comparer la résolution du field-ion microscope (FIM) et le scanning tunnelling microscope. La surface est représentée par un modèle jellium. Les calculs indiquent que le FIM pourrait donner la meilleure résolution. Il est suggéré que le FIM peut être utilisé pour déterminer l'ondulation de la densité de charge au-dessus de la surface et donc pourrait élucider la structure de la cellule unitaire de la surface.
Abstract
Our investigations of the resolution of the field-ion microscope (FIM) and the scanning tunnelling microscope, based on calculations of charge density above a structured metal surface represented by a jellium model, indicate that better resolution may be expected in the FIM. We suggest that FIM can be used to determine the corrugation of the charge density above a surface and hence to elucidate the structure of a surface unit cell.