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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C9-125 - C9-132 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984922 | |
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-125-C9-132
DOI: 10.1051/jphyscol:1984922
1 Départment de Physique, F.N.D.P., 61, rue de Bruxelles, 5000 Namur, Belgium
2 Physics Department, The Pennsylvania State University, University Park, Pennsylvania 16802, U.S.A.
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-125-C9-132
DOI: 10.1051/jphyscol:1984922
POTENTIAL DISTRIBUTION IN METAL-VACUUM-METAL PLANAR BARRIERS CONTAINING SPHERICAL PROTRUSIONS OR INCLUSIONS
A.A. Lucas1, J.P. Vigneron1, J. Bono2, P.H. Cutler2, T.E. Feuchtwang2, R.H. Good1, Jr. Huang2 et Z. Huang21 Départment de Physique, F.N.D.P., 61, rue de Bruxelles, 5000 Namur, Belgium
2 Physics Department, The Pennsylvania State University, University Park, Pennsylvania 16802, U.S.A.
Résumé
On présente une méthode exacte pour le calcul rapide a) de la distribution de potentiel électrostatique régnant entre deux électrodes planes parallèles contenant une protrusion sphérique ou insertion sphérique conductrice et soumises à une différence de potentiel et b) du potentiel image classique ressenti par un électron traversant la jonction plano-sphérique.
Abstract
We present an exact method for the fast computation of a) the electrostatic potential distribution between two biased planar, parallel electrodes containing a spherical protrusion or an isolated conducting, spherical insertion and b) the classical image charge potential experienced by an electron crossing the plano-spherical junction.