| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-429 - C2-432 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984297 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-429-C2-432
DOI: 10.1051/jphyscol:1984297
Materials Science and Technology Division, Argonne National Laboratory, Argonne, Illinois 60439, U.S.A.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-429-C2-432
DOI: 10.1051/jphyscol:1984297
AN ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRAL LIBRARY AND ITS APPLICATION TO MATERIALS SCIENCE
N.J. ZaluzecMaterials Science and Technology Division, Argonne National Laboratory, Argonne, Illinois 60439, U.S.A.
Résumé
On présente un catalogue de données spectrales en pertes d'énergie des électrons pour des niveaux profonds. Des applications à des problèmes typiques en science des matériaux sont montrées.
Abstract
The format as well as the motivation behind the development of an EELS library of inner-shell edge profiles is outlined and its application to typical problems in materials research discussed.