| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-433 - C2-436 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984298 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-433-C2-436
DOI: 10.1051/jphyscol:1984298
1 On leave from Cavendish Laboratory, Cambridge CB3 OHE, U.K.
2 Laboratoire de Physique des Solides, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France
3 ER 210, C.N.R.S. Bellevue, 92195 Meudon Cedex Principal, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-433-C2-436
DOI: 10.1051/jphyscol:1984298
FINE STRUCTURE IN EELS FROM RARE EARTH SESQUIOXIDE THIN FILMS
L.M. Brown1, C. Colliex2 et M. Gasgnier31 On leave from Cavendish Laboratory, Cambridge CB3 OHE, U.K.
2 Laboratoire de Physique des Solides, Université de Paris-Sud, 91405 Orsay, France
3 ER 210, C.N.R.S. Bellevue, 92195 Meudon Cedex Principal, France
Résumé
Les structures fines des seuils d'absorption entre 0 et 2 keV des sesquioxydes de terres rares à l'état de couches minces ont été étudiées par la technique de la spectroscopie des pertes d'énergie électronique en utilisant un STEM.
Abstract
Fine structure of absorption edges between 0 and 2 keV from rare-earth sesquioxide thin films were studied by electron energy-loss spectroscopy in STEM.