| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-361 - C2-365 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984282 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-361-C2-365
DOI: 10.1051/jphyscol:1984282
Ecole des Mines de Paris, C.E.M.E.F., Sophia-Antipolis, 06565 Valbonne Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-361-C2-365
DOI: 10.1051/jphyscol:1984282
APPORT DE LA MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE SOUS INCIDENCE RASANTE À L'ÉTUDE DES SURFACES, APPLICATION AU LAITON 70/30
E. Darque-Ceretti, M.Y. Perrin et F. DelamareEcole des Mines de Paris, C.E.M.E.F., Sophia-Antipolis, 06565 Valbonne Cedex, France
Résumé
On montre combien la diffraction des électrons (100 keV) sous incidence rasante aide à la compréhension des données obtenues par spectrométrie Auger. On prend pour exemple l'étude d'une surface oxydée de laiton 70/30. Les résultats sont discutés, et confrontés à ceux obtenus en ESCA. L'influence du frottement sur la composition superficielle est observée.
Abstract
We point out the complementarity of RHEED and Auger electron spectrometry. An oxidized 70/30 brass surface is taken as example. The results are discussed and compared with ESCA data. Friction is noted to have an influence on surface composition.