Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
Page(s) C2-367 - C2-370
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984283
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis

J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-367-C2-370

DOI: 10.1051/jphyscol:1984283

ÉTUDE PAR MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE ET SPECTROMÉTRIE AUGER DE RUPTURES FRAGILES DU TUNGSTÈNE

Tran Huu Loi, E. Lhuire, J.P. Morniroli et M. Gantois

Laboratoire de Génie Métallurgique, L.A. CNRS 159 Métallurgie, Ecole des Mines, Parc de Saurupt, 54042 Nancy Cedex, France


Résumé
Les effets de l'impureté phosphore et de la forme des grains sur la temperature de transition ductile-fragile et les faciès de rupture fragile du tungstène sont examinés par microscopie électronique à balayage et spectromètrie AUGER.


Abstract
The effect of phosphorous grain boundary segregation and of grain morphology on brittle to ductile transition temperatures and on metallographic aspects of brittle fracture are examined in tungsten samples by means of scanning electron microscopy and AUGER electron spectroscopy.