| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-333 - C2-336 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984275 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-333-C2-336
DOI: 10.1051/jphyscol:1984275
Ecole des Mines de Paris, Centre des Matériaux, B.P. 87, 91003 Evry Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-333-C2-336
DOI: 10.1051/jphyscol:1984275
AMÉLIORATION PAR MICRO-ORDINATEUR DES ACQUISITIONS DE DONNÉES EN SPECTROMÉTRIE AUGER
T.T. Nguyen, C. Aubin et J.P. HenonEcole des Mines de Paris, Centre des Matériaux, B.P. 87, 91003 Evry Cedex, France
Résumé
La rapidité de mémorisation des techniques numériques permet d'accélérer les mesures et de suivre les évolutions des phénomènes de surfaces.
Abstract
Solid surface short lifetimes or rapid changes occur during their characterization by A.E.S. Digital techniques of a microprossessor, are used to enhance the speed of data records. A familar microcomputer, i.e. the Apple II, can handle a powerful data acquisition function for more accurate surface analysis.