ADSORBED SOLID XENON AND KRYPTON ON GRAPHITE-DIFFRACTION STUDIES AND MODEL CALCULATIONS

Résumé
On souligne ici l'importance des dernières études de diffraction qui ont permis d'établir les diagrammes de phase et les isostères des couches monoatomiques de Kr et Xe solides adsorbés sur le graphite. La mesure des paramètres réticulaires permet d'obtenir des isostères avec une précision de ~0,6 % qui peuvent être utilisés pour tester des modèles approfondis de mécanique statistique de ces couches solides. Ces modèles utilisent les potentiels de gaz rares les plus précis dans le cadre du formalisme de la dynamique du réseau. On s'applique à étudier les transitions solide-gaz et solide-solide (localisé-délocalisé). On montre que (i) l'énergie à trois corps de Sinanoglu-Pitzer est significative mais approximativement 0,4 fois plus grande que celle proposée originalement, (ii) les dislocations interfaciales modifient la forme de la transition solide-solide ; de plus l'énergie de dislocation de Frank-Van der Merwe permet de rendre compte. convenablement de la transition du second ordre observée, et (iii) les dislocations modifient considérablement les intensités diffractées.

Abstract
The importance of recent diffraction studies in establishing phase boundaries and isosteres for solid adsorbed monolayers of Kr and Xe on graphite is emphasised. Lattice parameter measurements give isosteres to ~0.6 % accuracy which can be used to test detailed statistical mechanical models of the solid layers. These models are developed using the most accurate rare gas potentials in conjunction with the cell model of the lattice dynamics. By concentrating on the solid-gas and solid-solid (registry-disregistry or localised-unlocalised) phase transitions, we show that : (i) the Sinanoglu-Pitzer (substrate-mediated) three-body energy is significant but approximately 0.4 times as large as originally proposed ; (ii) that misfit dislocations modify the form of the solid-solid phase transition, and that the Frank-van der Merwe form of the dislocation energy can be made to fit the observed (second-order) transitions reasonably well ; and (iii) that dislocations also modify diffraction intensities considerably.