FROM THE ATOMIC STRUCTURE OF INTERFACES TO THEIR PHYSICAL AND CHEMICAL PROPERTIES

Abstract
De nouveaux résultats expérimentaux ont été obtenus récemment sur la structure atomique des joints de grains et des interfaces. Les différentes techniques donnant des renseignements à l'échelle atomique sont exposées : la microscopie électronique à haute résolution, la microscopie à émission de champ, la microscopie tunnel et la diffraction de rayons-X. La comparaison de ces résultats avec les modélisations sur ordinateur et le lien avec les propriétés des joints ont été menés à bien dans quelques cas particuliers. C'est un des enjeux majeurs des prochaines années que de généraliser ces comparaisons dans l'étude des interfaces.

Abstract
In the recent past years experimental new results have been obtained on the atomic structure of grain boundaries and interfaces. The different techniques for recording atomic-scale information at boundaries, either topological or chemical, are critically reviewed. These include high resolution electron microscopy, atom-probe field-ion microscopy, scanning tunneling microscopy and X-ray diffraction. The confrontation with computer modelling as well as the link with the boundary properties has been carried out in few cases. It is emphasized that such a comparison is one of the major issue of the interface studies in the next future.