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J. Phys. Colloques
Volume 47, Number C2, Mars 1986
32 nd International Field Emission Symposium / 32ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C2-443 - C2-449 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986268 | |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C2-443-C2-449
DOI: 10.1051/jphyscol:1986268
PROFILES OF TILTED TIP CRYSTALS
D. DRECHSLER et D. LAPORTECRMC2-CNRS, Université d'Aix-Marseille III, Campus de Luminy, F-13288 Marseille Cedex 2, France
Résumé
Pour obtenir des informations plus précises sur l'évolution géométrique des pointes cristallines visualisées en microscopie électronique on a introduit une technique d'analyse des pointes inclinées. Pour l'analyse des images des pointes inclinées on a calculé le profil des pointes en fonction de l'angle d'inclinaison et sur ces pointes on a déterminé la position et la forme des faces.
Abstract
To get more precise informations on the geometrical evolution of heated tip crystals visualized by electron microscopy a tilt analysis technique is introduced. To analyse micrographs of tilted tip crystals (Ni, Ta, W) the profile of such crystals is calculated for different tilt and tip cone angles. The position and shape of faces on such tips is determined.