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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-423 - C2-428 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984296 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-423-C2-428
DOI: 10.1051/jphyscol:1984296
Physics Department, University of Alberta, Edmonton, Alberta, Canada T6G 2J1
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-423-C2-428
DOI: 10.1051/jphyscol:1984296
TRENDS IN EELS WITHIN THE FIELD OF MICROANALYSIS
R.F. EgertonPhysics Department, University of Alberta, Edmonton, Alberta, Canada T6G 2J1
Résumé
On présente la technique de spectrométrie des pertes d'énergie des électrons en microscopie électronique en transmission. Puis on discute les développements récents de l'appareillage et on donne plusieurs exemples d'analyse chimique et structurale.
Abstract
We begin with a brief introduction to electron energy-loss spectroscopy carried out using an electron microscope. Recent developments in instrumentation are then discussed, followed by examples designed to illustrate applications of the technique to elemental analysis and structure determination.