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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-419 - C2-422 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984295 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-419-C2-422
DOI: 10.1051/jphyscol:1984295
1 Institut Français du Pétrole, B.P. 311, 92506 Rueil-Malmaison, France
2 Groupe de Recherche n° 4 du CNRS, Physique des Liquides et Electrochimie, Université Pierre et Marie Curie, 4 place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-419-C2-422
DOI: 10.1051/jphyscol:1984295
ESSAIS DE CARACTÉRISATION DE LA SÉGRÉGATION INTERGRANULAIRE DANS LES JOINTS DE GRAINS D'ALLIAGES Ni - Si EN ANALYSE PAR EMISSION X - STEM
L. Beaunier, H. Dexpert1 et C. Vignaud21 Institut Français du Pétrole, B.P. 311, 92506 Rueil-Malmaison, France
2 Groupe de Recherche n° 4 du CNRS, Physique des Liquides et Electrochimie, Université Pierre et Marie Curie, 4 place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05, France
Résumé
Nous mettons en évidence la ségrégation du silicium dans les joints de grains du nickel contenant 1,3% de silicium atomique en matrice. La mesure est faite par analyse directe des joints de grains en émission X sur STEM.
Abstract
The silicon grain-boundary segregation is shown in a 1.3% at. nickel-silicon alloy, by direct measurement on grain-boundaries by spectrometry X on STEM.