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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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Page(s) | C2-59 - C2-63 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984215 |
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-59-C2-63
DOI: 10.1051/jphyscol:1984215
X-RAY MICROSCOPY AND MICROANALYSIS : INTRODUCTORY SURVEY
V.E. CosslettCavendish Laboratory, Cambridge, U.K.
Résumé
On observe un renouveau dans l'utilisation des rayons X en microscopie dans deux cas différents : a) avec un fort pouvoir de résolution géométrique en biologie et en science des matériaux ; b) sans trop s'attacher à la résolution géométrique en biologie, par rayonnement synchrotron. La microanalyse par rayons X continue son développement à la fois dans la compréhension fondamentale et dans l'instrumentation. Le choix des témoins reste le problème le plus important.
Abstract
In recent years there has been a certain revival in the use of X-rays for microscopy. It has taken place in two quite different spheres : at low resolution for some practical purposes in biology and materials science and at higher resolution in mainly biological applications with the aid of synchrotron radiation. Microanalysis with X-rays continues to develope in both fundamental understanding and in instrumentation. The major problem now seems to be to establish reliable standards.