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J. Phys. Colloques
Volume 45, Number C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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|---|---|---|
| Page(s) | C2-53 - C2-56 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984214 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-53-C2-56
DOI: 10.1051/jphyscol:1984214
1 CAMECA, 103 Boulevard St Denis, 92403 Courbevoie, France
2 C.N.E.T., PMS/SPD, 196 rue de Paris, 92220 Bagneux, France
3 C.E.A. - Saclay, 91191 Gif-sur-Yvette, France
4 Faculté des Sciences de Tunis, Département de Physique, TN - Tunis, le Belvédère, Tunisie
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-53-C2-56
DOI: 10.1051/jphyscol:1984214
EVALUATION DES EFFETS DE DIFFRACTION SUR LES SIGNAUX OBTENUS À PARTIR DES MICROSONDES ÉLECTRONIQUES
J. Henoc1, P. Henoc2, F. Maurice3 et K. Raouadi41 CAMECA, 103 Boulevard St Denis, 92403 Courbevoie, France
2 C.N.E.T., PMS/SPD, 196 rue de Paris, 92220 Bagneux, France
3 C.E.A. - Saclay, 91191 Gif-sur-Yvette, France
4 Faculté des Sciences de Tunis, Département de Physique, TN - Tunis, le Belvédère, Tunisie
Résumé
On montre que les effets de diffraction sur le parcours des électrons dans les couches minces recristallisées restent négligeables. Ce qui indique que la simulation des trajectoires électroniques par la méthode de Monte-Carlo appliquée aux matériaux amorphes est utilisable pour les cristaux.
Abstract
It is shown that the diffraction effects on the electron path in a recrystallized thin film are negligible. This indicates that the Monte-Carlo method for simulating electron trajectories is valid as much for an amorphous solid as for a crystalline one.