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J. Phys. Colloques
Volume 44, Number C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
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| Page(s) | C10-13 - C10-22 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831002 | |
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-13-C10-22
DOI: 10.1051/jphyscol:19831002
1 Laboratory of Atomic & Solid State Physics and Materials Science Center, Cornell University, Ithaca, NY 14853, U.S.A.
2 Bell Telephone Labs, 600 Mountain Avenue, Murray Hill, New Jersey 07974
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-13-C10-22
DOI: 10.1051/jphyscol:19831002
IR SURFACE PLASMON SPECTROSCOPY
A.J. Sievers1 et Z. Schlesinger21 Laboratory of Atomic & Solid State Physics and Materials Science Center, Cornell University, Ithaca, NY 14853, U.S.A.
2 Bell Telephone Labs, 600 Mountain Avenue, Murray Hill, New Jersey 07974
Résumé
On passe en revue les avantages et les pièges de la spectroscopie de plasmons de surface dans 1'infra-rouge.
Abstract
The practicality and pitfalls of IR surface plasmon spectroscopy are reviewed.