Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 48, Numéro C9, Décembre 1987
X-Ray and Inner-Shell Processes
Vol. 1
Page(s) C9-1085 - C9-1096
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19879197
X-Ray and Inner-Shell Processes
Vol. 1

J. Phys. Colloques 48 (1987) C9-1085-C9-1096

DOI: 10.1051/jphyscol:19879197

RECENT DEVELOPMENTS IN THE EXPERIMENTAL STUDIES OF XANES

J. PETIAU1, G. CALAS1 and P. SAINCTAVIT2

1  Laboratoire de Minéralogie - Cristallographie, Universités Paris VI et VII (CNRS UA-09), 4, Place Jussieu, F-75252 Paris Cedex 05, France
2  Saint-Gobain Recherche, 39, Quai Lucien Lefranc, F-93304 Aubervilliers Cedex, France


Résumé
La spectroscopie d'absorption X au voisinage des seuils informe sur la structure électronique locale et sur l'arrangement géométrique autour de l'élément absorbant. Cet article présente des résultats expérimentaux récents en les classant d'après l'interprétation qui en est donnée.


Abstract
X-Ray absorption spectroscopy in the vicinity of absorption edges contain information about the electronic structure and about the geometrical arrangement around the absorbing atom. This paper presents recent experimental studies in relation to the type of interpretation which is given.