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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C9-423 - C9-428 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984970 | |
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-423-C9-428
DOI: 10.1051/jphyscol:1984970
AN IMAGING ATOM PROBE STUDY
P.M. Bronsveld1, H. Elswijk1, P.J. Bolt1, G.J. Dubben2 et J.Th.M. De Hosson11 Department of Applied Physics, Materials Science Centre, University of Groningen, Nijenborgh 18, NL-9747 AG Gronigen, The Netherlands
2 Technological University Twente, Enschede, The Netherlands
Résumé
Nous présentons quelques résultats obtenus récemment concernant l'hétérogénéité chimique à l'échelle atomique. Dans une première partie nous décrirons les particules qui existent après trempe dans le verre métallique Fe75B15Si10 et dans une deuxième partie nous comparerons la taille des précipités de γ' après un recuit de trois heures à 853 K d'un alliage de Ni55Cu36Al9 mesurée par microscopie ionique à effet de champ et microscopie électronique.
Abstract
Two applications of an imaging atom probe are reported in which atomic resolution was achieved together with atomic identification. One concerns the presence of microcrystallites in a metallic glass Fe75-B15Si10, the other a comparison of the size of γ' precipitates in the alloy Ni55Cu36Al9 annealed for 3 h at 853 K measured both with a field ion and an electron microscope.